Que o mercado de eletrônicos evolui rapidamente não é uma novidade!  Quem trabalha nesta área sabe que o mercado exige cada vez mais conhecimentos técnicos e específicos. O modo como se prepara e se encara para estas tendências e demandas pode diferenciar uma empresa que se preparada para o futuro de uma empresa que apenas está no mercado oferecendo seus produtos e serviços.

 

Levando isso em consideração, a apresentação sobre Boundary Scan ministrada por Arthur, Representante de Vendas da Tekno-Sip, foi encerrada com um pensamento que é muito verdadeiro em nosso mercado tecnológico: "O mesmo homem não pode atravessar o mesmo rio, porque o homem de ontem não é o mesmo homem, nem o rio de ontem é o mesmo do hoje - Heráclito de Éfeso”.

A mudança é iminente em todos os setores! Com as tecnologias de teste,inspeção e programação, não é diferente.

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FOCO EM NOVIDADES

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Focado novamente em quebrar paradigmas e apresentar novas soluções para velhos problemas, o 4º Seminário VIP Tekno-Sip mostrou aos participantes que o mercado tecnológico brasileiro tem muito espaço ainda para se atualizar, como mostram as tecnologias Boundary Scan - uma tecnologia pouco explorada no Brasil, porém muito estável e divulgada ao redor do mundo - apresentado pelo Eduardo Baldi – Gerente Geral ETS e a automatização de Estratégias de Teste – demonstrado pelo Gerente de Desenvolvimento de Negócios da Aster, Peter Collins, que participou do Seminário não apenas com sua palestra, mas que também fez uma live-demo com os Softwares Aster.

O circuito de palestras do 4º Seminário VIP Tekno-Sip abordou os seguintes temas:

1.    Estratégias de Teste Estrutural - Atualizando e Alinhando para o Seminário – Eduardo Baldi – ETS
2.    Básico de Boundary Scan Jtag - Quebrar Velhos Paradigmas – Eduardo Baldi – ETS
3.    Tiny ICT - Uma nova plataforma de Teste & Integração com Jtag – Arthur Emidio – Tekno-Sip
4.    Automatizando sua Estratégia de Teste – Peter Collins – Aster Technologies
5.   Demonstração do Software Aster – Peter Collins – Aster Technologies
6.   Caso Técnico - Automação da Estratégia de Teste - AOI & ICT & Jtag – Julio & Ricardo – ETS